產(chǎn)品[
雷擊浪涌發(fā)生器
]資料
產(chǎn)品名稱:
雷擊浪涌發(fā)生器
產(chǎn)品型號:
VCS 500N10
產(chǎn)品展商:
EM TEST
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡單介紹
VCS 500N10 雷擊浪涌發(fā)生器能夠產(chǎn)生*高可達(dá) 10kV 的浪涌電壓和*大可達(dá) 5kA 的浪涌電流。完全符合對電子元器件進(jìn)行浪涌測試的要求。
雷擊浪涌發(fā)生器
的詳細(xì)介紹
特點(diǎn)
- 浪涌脈沖電壓/電流可達(dá) 10kV/5kA
- 外置可選單相或三相耦合網(wǎng)絡(luò)，電流可達(dá) 100A
- 失效偵測功能
- 警示燈控制
- **鎖
- 標(biāo)準(zhǔn)測試程序
- USB 和 GPIB 接口
應(yīng)用
組合波模擬器
浪涌的發(fā)生是由于直接或間接的雷電擊中戶外電路所致，這將會(huì)引起瞬態(tài)的高壓或大電流。浪涌干擾的另外一個(gè)來源是開關(guān)干擾和系統(tǒng)故障。幾乎所有的電子電氣設(shè)備都會(huì)受到浪涌的影響。這更加證明了浪涌測試的必要性。浪涌電壓可達(dá)數(shù)千伏特，浪涌電流則可達(dá)數(shù)千安培。
標(biāo)準(zhǔn)
- EN 61000-4-5
- EN 61000-4-9
- IEC 60255-22-5
- IEC 61000-4-5
- IEC 61000-4-9
- IEC 61326
- IEC 61850-3
- ITU-T K.12
- ITU-T K.20
- ITU-T K.45
優(yōu)點(diǎn)
VCS 500N10 雷擊浪涌發(fā)生器能夠產(chǎn)生*高可達(dá) 10kV 的浪涌電壓和*大可達(dá) 5kA 的浪涌電流。完全符合對電子元器件進(jìn)行浪涌測試的要求（例如，通訊設(shè)備的過壓保護(hù)測試）。連接外置單相或三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)能夠?qū)⒗擞棵}沖疊加到電源線上。VCS 500N10 能夠根據(jù)所選擇的耦合網(wǎng)絡(luò)自動(dòng)設(shè)置源阻抗和耦合方式。
失效偵測端口則用于檢測被測設(shè)備狀態(tài)。峰值電壓和峰值電流的數(shù)值可實(shí)時(shí)顯示，并上傳到控制軟件，用于生成測試報(bào)告。
VCS 500N10 符合**規(guī)范，配有警示燈和**鎖。
預(yù)編程的標(biāo)準(zhǔn)的測試程序*大程度上方便用戶的使用。VCS 500N10 具有快速啟動(dòng)測試程序，參數(shù)在線可調(diào)，以便對被測設(shè)備的敏感度水平作出評估。
附屬設(shè)備
CNV 503 - 用于浪涌測試的三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)
EM TEST 提供一系列針對浪涌測試的全自動(dòng)三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)，從而擴(kuò)展針對三相被測設(shè)備的測試能力。網(wǎng)絡(luò)的額定電流可達(dá) 100A。
CNI 503 - 用于脈沖群和浪涌測試的三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)
EM TEST 提供一系列針對脈沖群和浪涌測試的全自動(dòng)三相耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)，從而擴(kuò)展針對三相被測設(shè)備的測試能力。網(wǎng)絡(luò)的額定電流可達(dá) 100A。
CNV 504N/508N - 用于浪涌測試的信號線/數(shù)據(jù)線耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)
CNV 504N/508N 耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)主要用于 I/O 線、信號線/數(shù)據(jù)線和通訊線的浪涌測試，滿足 IEC 61000-4-5 標(biāo)準(zhǔn)要求。
附件
MS 100N - 磁場線圈
配合 EM TEST MS 100N 磁場線圈，可以產(chǎn)生滿足 IEC 61000-4-9 和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的脈沖磁場。
